简易型BXFM
截点法晶粒度
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
OLS5100激光共焦显微镜
DP22
奥林巴斯测量显微镜STM7
夹杂物最恶劣视场法
孔隙率
STREAM软件特点
层厚度测量
光源以及配件
偏光显微镜BX53P
即时景深扩展(EFI)
颗粒分析
图谱对照
DP74
PCB电镀分布能力
辅助聚焦装置
奥林巴斯测量显微镜
研究型连续变倍SZX系列
清洁度分析系统
DSX1000数码显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
汽车行业质量控制
Presi制样设备
面积法晶粒度
清洁度分析系统CIX100
铸铁
普及型连续变倍SZ系列
DP27
自动聚焦装置
焊接
Linkam显微镜热台
Prior程序控制电动载物台
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