截点法晶粒度
Presi制样设备
Prior程序控制电动载物台
PCB电镀分布能力
简易型BXFM
焊接
颗粒分析
DP27
清洁度分析系统CIX100
奥林巴斯测量显微镜STM7
OLS5100激光共焦显微镜
图谱对照
即时景深扩展(EFI)
普及型连续变倍SZ系列
辅助聚焦装置
偏光显微镜BX53P
Linkam显微镜热台
DSX1000数码显微镜
面积法晶粒度
STREAM软件特点
DP22
夹杂物最恶劣视场法
层厚度测量
孔隙率
汽车行业质量控制
铸铁
研究型连续变倍SZX系列
光源以及配件
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
自动聚焦装置
清洁度分析系统
奥林巴斯测量显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
DP74
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