层厚度测量
截点法晶粒度
颗粒分析
奥林巴斯测量显微镜STM7
DP22
夹杂物最恶劣视场法
Prior程序控制电动载物台
DP27
DSX1000数码显微镜
偏光显微镜BX53P
焊接
即时景深扩展(EFI)
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
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清洁度分析系统
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奥林巴斯测量显微镜
研究型连续变倍SZX系列
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OLS5100激光共焦显微镜
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面积法晶粒度
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清洁度分析系统CIX100
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
孔隙率
DP74
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