截点法晶粒度
焊接
OLS5100激光共焦显微镜
奥林巴斯测量显微镜
颗粒分析
Prior程序控制电动载物台
偏光显微镜BX53P
Linkam显微镜热台
DSX1000数码显微镜
即时景深扩展(EFI)
夹杂物最恶劣视场法
层厚度测量
辅助聚焦装置
铸铁
DP27
奥林巴斯测量显微镜STM7
清洁度分析系统
DP22
汽车行业质量控制
PCB电镀分布能力
清洁度分析系统CIX100
面积法晶粒度
普及型连续变倍SZ系列
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
研究型连续变倍SZX系列
光源以及配件
图谱对照
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
STREAM软件特点
孔隙率
简易型BXFM
自动聚焦装置
DP74
Presi制样设备
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