自动聚焦装置
DP27
图谱对照
清洁度分析系统
铸铁
DP74
光源以及配件
截点法晶粒度
DSX1000数码显微镜
Prior程序控制电动载物台
清洁度分析系统CIX100
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孔隙率
研究型连续变倍SZX系列
DP22
偏光显微镜BX53P
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
面积法晶粒度
即时景深扩展(EFI)
Presi制样设备
汽车行业质量控制
PCB电镀分布能力
奥林巴斯测量显微镜STM7
夹杂物最恶劣视场法
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普及型连续变倍SZ系列
辅助聚焦装置
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