铸铁
偏光显微镜BX53P
层厚度测量
DP27
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
颗粒分析
即时景深扩展(EFI)
简易型BXFM
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
清洁度分析系统
OLS5100激光共焦显微镜
研究型连续变倍SZX系列
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DP22
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夹杂物最恶劣视场法
普及型连续变倍SZ系列
自动聚焦装置
DSX1000数码显微镜
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奥林巴斯测量显微镜
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DP74
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奥林巴斯测量显微镜STM7
清洁度分析系统CIX100
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