颗粒分析
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
夹杂物最恶劣视场法
清洁度分析系统CIX100
奥林巴斯测量显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
截点法晶粒度
焊接
孔隙率
简易型BXFM
DP22
奥林巴斯测量显微镜STM7
汽车行业质量控制
Prior程序控制电动载物台
图谱对照
Linkam显微镜热台
普及型连续变倍SZ系列
面积法晶粒度
铸铁
自动聚焦装置
OLS5100激光共焦显微镜
STREAM软件特点
DP27
研究型连续变倍SZX系列
即时景深扩展(EFI)
光源以及配件
PCB电镀分布能力
DP74
清洁度分析系统
层厚度测量
偏光显微镜BX53P
Presi制样设备
DSX1000数码显微镜
辅助聚焦装置
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