截点法晶粒度
OLS5100激光共焦显微镜
PCB电镀分布能力
夹杂物最恶劣视场法
自动聚焦装置
奥林巴斯测量显微镜STM7
DP22
偏光显微镜BX53P
Prior程序控制电动载物台
Presi制样设备
即时景深扩展(EFI)
DP27
清洁度分析系统CIX100
颗粒分析
孔隙率
面积法晶粒度
焊接
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简易型BXFM
研究型连续变倍SZX系列
清洁度分析系统
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
DP74
奥林巴斯测量显微镜
普及型连续变倍SZ系列
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普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
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