辅助聚焦装置
层厚度测量
孔隙率
即时景深扩展(EFI)
研究型连续变倍SZX系列
Prior程序控制电动载物台
简易型BXFM
清洁度分析系统CIX100
截点法晶粒度
Presi制样设备
OLS5100激光共焦显微镜
普及型连续变倍SZ系列
颗粒分析
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
夹杂物最恶劣视场法
偏光显微镜BX53P
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
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