截点法晶粒度
辅助聚焦装置
即时景深扩展(EFI)
偏光显微镜BX53P
铸铁
清洁度分析系统CIX100
普及型连续变倍SZ系列
焊接
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奥林巴斯测量显微镜
面积法晶粒度
奥林巴斯测量显微镜STM7
孔隙率
清洁度分析系统
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
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OLS5100激光共焦显微镜
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
研究型连续变倍SZX系列
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