偏光显微镜BX53P
层厚度测量
截点法晶粒度
即时景深扩展(EFI)
研究型连续变倍SZX系列
Linkam显微镜热台
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
清洁度分析系统
奥林巴斯测量显微镜
夹杂物最恶劣视场法
Prior程序控制电动载物台
焊接
奥林巴斯测量显微镜STM7
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清洁度分析系统CIX100
铸铁
OLS5100激光共焦显微镜
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
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DP74
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