夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜STM7
层厚度测量
光源以及配件
截点法晶粒度
图谱对照
DP22
Prior程序控制电动载物台
清洁度分析系统CIX100
简易型BXFM
清洁度分析系统
自动聚焦装置
Linkam显微镜热台
偏光显微镜BX53P
DP74
奥林巴斯测量显微镜
面积法晶粒度
即时景深扩展(EFI)
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
普及型连续变倍SZ系列
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焊接
Presi制样设备
研究型连续变倍SZX系列
颗粒分析
汽车行业质量控制
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
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DP27
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